Чувенкова, О. А., Бойков, Н. И., Рябцев, С. В., Паринова, Е. В., Чумаков, Р. Г., Лебедев, А. М., . . . Турищев, С. Ю. (2024). XPS исследования физико-химического состояния поверхности тонких эпитаксиальных и магнетронных слоев олова. Конденсированные среды и межфазные границы, 26(3), . https://doi.org/10.17308/kcmf.2024.26/12304
Chicago-referens (17:e uppl.)Чувенкова, Ольга Александровна, et al. "XPS исследования физико-химического состояния поверхности тонких эпитаксиальных и магнетронных слоев олова." Конденсированные среды и межфазные границы 26, no. 3 (2024). https://doi.org/10.17308/kcmf.2024.26/12304.
MLA-referens (9:e uppl.)Чувенкова, Ольга Александровна, et al. "XPS исследования физико-химического состояния поверхности тонких эпитаксиальных и магнетронных слоев олова." Конденсированные среды и межфазные границы, vol. 26, no. 3, 2024, https://doi.org/10.17308/kcmf.2024.26/12304.
