Hoppa till innehåll
Feedback
Logga in
Språk
English
Svenska
Finn — Bibliotekens söktjänst
Beta
Sök
Avancerad
Sidan laddas om när ett filter tas bort.
Rensa filter
Aktiva filter:
Sidan laddas om när ett filter tas bort.
Rensa filter
Visa begränsningar (0)
Evolution of Defect States wit...
Laddar…
Visa i EDS
Hänvisa
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Källa:
ACS Applied Electronic Materials
. 7(7):2928-2938
Databas:
ACS Publications
Visa andra fält
Författarna:
Shin, Dong Yeob
aff1
,
Kim, Min Jung
aff1
,
Go, Jinyoung
aff1
,
Hong, Hyunmin
aff2
,
Lee, Sunwoo
aff2
,
Park, Younggil
aff2
,
Weldemhret, Teklebrahan Gebrekrstos
aff1
,
Jeong, Kwangsik
aff3
,
Chung, Kwun-Bum
aff1
Tillgänglighet:
Visa
Beståndsuppgifter
Close
