Hoppa till innehåll
Feedback
Logga in
Språk
English
Svenska
Finn — Bibliotekens söktjänst
Beta
Sök
Avancerad
Wafer2Spike
Laddar…
Visa i EDS
Hänvisa
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Källa:
2024 IEEE International Test Conference (ITC) ITC Test Conference (ITC), 2024 IEEE International. :16-20 Nov, 2024
Databas:
IEEE Xplore Digital Library
Visa andra fält
Författarna:
Mishra, Abhishek
,
Kumar, Suman
,
Lingamoorthy, Anush
,
Das, Anup
,
Kandasamy, Nagarajan
Beståndsuppgifter
Close